第224章 良率首次突破40%

  预检测筛除率：42.3%

  最终电性测试良率：37.9%

  隨机缺陷导致的失效占比：68.2%

  系统上线后（三天平均值）

  每日流片量：18片（因风险评估筛除部分高风险批次）

  预检测筛除率：28.7%

  最终电性测试良率：39.2%

  隨机缺陷导致的失效占比：51.4%

  “良率提升了1.3个百分点。”金秉洙博士读出关键数据，“隨机缺陷占比下降了近17个百分点。这说明系统確实有效。”

  “但流片量下降了25%。”梁志远指出，“因为系统筛掉了太多『高风险』批次，我们实际获得的有效实验晶圆数量反而减少了。”

  “这是必要的代价。”林薇解释道，“在系统预测准確率还不够高的情况下，保守策略能保证我们获得的每一片实验数据都是高质量的。低质量的数据不仅没用，还会误导工艺优化方向。”

  “但时间呢？”有人小声质疑，“我们现在每天只有18片有效数据，而之前有24片，数据积累速度慢了四分之一。”

  这个问题戳中了所有人的痛处。倒计时已经跳到92天，时间正在一分一秒地流逝。

  张京京沉思片刻：“我建议调整策略。从明天起，將晶圆分为a、b两类：a类是高风险批次，但我们可以尝试在开启主动防护的情况下进行流片，作为系统极限能力的测试；b类是低风险批次，作为正常的工艺验证。这样既能保证数据质量，又能提高数据量。”

  “风险很大。”林薇提醒，“如果a类批次大量失败，会浪费宝贵的时间和材料。”